Microscope électronique à balayage JEOL - Institut de Recherche en
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JEOL JSM-6060LA Principe La microscopie électronique à balayage (MEB) est une technique de microscopie électronique capable de produire des images en haute résolution de la surface d’un échantillon en utilisant le principe des interactions électrons-matière. Le principe consiste en un faisceau d’électrons balayant la surface de l’échantillon à analyser qui, en réponse, réémet certaines particules. Ces particules sont analysées par différents détecteurs qui permettent de reconstruire une image de la surface. Fiche technique Dimensions utiles (x,y,z) : 80 x 40 x 50mm Résolution : 3.5nm (30kV), 20nm (10kV) Grossissement : x 8 à x 300 000 EDS Detector
ZEISS MEB et FIB-SEM
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11 : Microscope électronique à balayage (MEB) modèle JEOL JSM
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